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Formation animée par Sam Webb à IPANEMA, 14-16 octobre 2019

Ouverture des inscriptions

par Fanny Dubray - publié le

Dans le cadre du professorat invité de Sam Webb, le DIM Matériaux anciens et patrimoniaux organise dune formation de deux jours et demi sur les stratégies d’analyse d’images aux rayons X obtenues à partir du rayonnement synchrotron, dans le domaine du patrimoine et de l’environnement.

Les participants seront sélectionnés par un Comité scientifique sur la base d’un CV et d’une lettre d’intérêt. Dix places seront réservées aux jeunes scientifiques du DIM "Matériaux anciens et patrimoniaux".

La soumission des candidatures est ouverte jusqu’au 10 septembre inclus sur la plateforme : https://x-images-dim.sciencescall.org/.

Programme :

Les techniques de rayons X sur synchrotron fournissent une mine d’informations sur un large éventail d’échantillons scientifiques. Depuis quelques décennies, l’intérêt particulier des techniques synchrotron pour le patrimoine culturel et les systèmes anciens apparaît de manière évidente. Cependant, ces techniques posent plusieurs défis : optimisation et planification de l’expérience, collecte efficace des données, surveillance des spécimens, extraction d’informations utiles à partir de vastes ensembles de données.

La formation de deux jours et demi présentera aux participants une série de stratégies d’analyse de l’imagerie par fluorescence X et spectroscopie d’absorption des rayons X (XAS), en particulier dans le contexte du patrimoine et de l’environnement. Le Synchrotron XRF fournit des informations à résolution spatiale sur la composition élémentaire, qui peuvent être complétées par XAS afin de déterminer la chimie spécifique des éléments d’intérêt. Les principes qui sous-tendent chaque technique peuvent être combinés dans une nouvelle approche d’imagerie spectrale d’absorption des rayons X actuellement développée conjointement par le SSRL et l’IPANEMA qui donne une carte de composition chimique à résolution spatiale. La puissance de la combinaison de ces techniques réside dans le fait qu’elles peuvent être appliquées dans de nombreux domaines d’intérêt, notamment les sciences du patrimoine culturel, les sciences environnementales et géologiques, les sciences biologiques et les sciences des matériaux.

La première journée portera sur le contexte de chacune de ces techniques, les stratégies de collecte de données et les principes du traitement des données. L’après-midi, ces techniques seront appliquées à plusieurs exemples concrets de patrimoine culturel. Le deuxième jour évoquera des situations d’analyse de données, à l’aide de différents types d’ensembles. La dernière demi-journée permettra d’approfondir cet aspect, en utilisant les ensembles de données fournis par les participants. À la fin de l’atelier, les participants auront acquis une connaissance pratique des techniques d’imagerie spectrale et de spectroscopie par rayons X et appris à utiliser ces procédés en temps réel afin d’optimiser la collecte de données. Si les exemples de l’atelier porteront sur les données du synchrotron, les techniques et les principes fondamentaux de l’analyse peuvent aussi être largement appliqués aux données XRF recueillies en laboratoire.

Post-scriptum :

Cet événement est organisé avec le soutien du DIM "Matériaux anciens et patrimoniaux" financé par la région Ile-de-France.


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