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Soutenance de thèse : Patricio Guerrero-Prado

par Bénédicte Charbonnel - publié le

Patricio Guerrero-Prado soutiendra sa thèse intitulée « Three-dimensional reconstruction of flat heritage objects based on Compton scattering tomography » le jeudi 5 juillet 2018 à 14h00 dans la salle 2104 de l’Université de Versailles-Saint-Quentin-en-Yvelines.




Le jury sera composé de :

  • Guillaume BAL (Université de Chicago) Rapporteur
  • Uwe BERGMAN (Université Stanford) Rapporteur
  • Serge COHEN (IPANEMA) Directeur de thèse
  • Laurent DUMAS (Université de Versailles) Co-directeur de thèse
  • Mohamed EL RHABI (École des Ponts ParisTech) Examinateur
  • Sylvie LE HÉGARAT (Université Paris-Sud) Examinatrice
  • Mai NGUYEN (Université Cergy-Pontoise) Co-directrice de thèse
  • Roman NOVIKOV (École Polytechnique) Examinateur

Résumé des travaux :

La caractérisation tridimensionnelle de matériaux anciens plats par des méthodes classiques de tomographie à rayons X reste très compliquée en raison de leur morphologie anisotrope et de leur géométrie aplatie.
Pour surmonter les limites de ces méthodologies, ce travail propose une modalité d’imagerie basée sur le rayonnement diffusé Compton. La tomographie classique aux rayons X traite les données de diffusion Compton comme du bruit ajouté au processus de formation d’images, tandis que dans la tomographie de diffusion inélastique, les conditions sont définies de sorte que cette dernière devienne le phénomène dominant dans la formation d’image. Dans ces conditions, la rotation relative entre l’échantillon et le dispositif d’imagerie n’est plus nécessaire et on peut observer des objets aplatis. Mathématiquement, la formation d’image de cette modalité correspond à la transformée de Radon conique. Nous avons d’abord modélisé le problème direct, la formation d’image, en considérant une illumination monochromatique parallèle et une détection résolue soit en angle d’incidence soit en énergie. Nous avons ensuite proposé un algorithme de résolution du problème inverse, c’est-à-dire l’estimation de la distribution 3D de la densité électronique de l’objet à partir de l’image échantillonnée en angle et en énergie. Des simulations numériques supportent la faisabilité de cette méthodologie.


Crédits photo : Vo Trung Dung


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