![Microscope Electronique à Balayage](https://ipanema.cnrs.fr/wp-content/uploads/2025/01/figure_sem-1024x680.jpg)
Microscopie électronique à balayage
Cet instrument est accessible aux utilisateurs CP6 dans le cadre de collaborations et aux scientifiques hébergés sur la plateforme IPANEMA. Merci de prendre contact avec Mathieu Thoury (mathieu.thoury(at)synchrotron-soleil.fr) pour toute question relative au microscope électronique à balayage.
Le microscope électronique à balayage équipé d’un système de microanalyse X est mis en opération conjointement par IPANEMA et la Division Expériences de SOLEIL.
Canon | à émission Schottky (ZrO/W) |
Tensions | 0.02 – 30 kV |
Courants | 4 pA – 20 nA |
Diaphragmes | 7.5, 10, 20, 30, 60, 120 μm |
Hauteur max de l’échantillon | 55 mm |
Pression contrôlée | 0.02—1.33 mbar |
Détecteurs d’électrons secondaires | Everhart-Thorley dit SE2, détecteur dans la lentille dit In Lens |
Détecteurs d’électrons rétrodiffusés | AsB, In Lens à basse tension dit SEEF |
Détecteurs d’électrons secondaires sous pression contrôlée | Gas Luminescent Detector dit VPSE |
Détecteur pour l’EDS |
SDD (Bruker) 30 mm2 logiciels de quantification et de mesure d’épaisseur de couches |
Distance de travail pour l’EDS | 7.5 mm |
Performances des instruments |
Résolution en imagerie d’électrons secondaires sur Au/C à 20 kV avec détecteur In Lens : 1 nm Meilleure résolution mesurée du détecteur SDD 30 mm2 : 126,5 eV sur K Mn à 20 kcps |
Références bibliographiques (bientôt en ligne)
MEB-FEG
MEB sous pression contrôlée
Analyse EDS – modèles de quantification
![](https://ipanema.cnrs.fr/wp-content/uploads/2025/01/Capture-decran-2025-01-16-a-17.50.16-1024x732.png)
Spectro-microscopie infrarouge
Cet instrument est accessible aux utilisateurs CP6 dans le cadre de collaborations et aux scientifiques hébergés sur la plateforme IPANEMA. Merci de prendre contact avec Mathieu Thoury (mathieu.thoury(at)synchrotron-soleil.fr) pour toute question relative au spectro-microscope infrarouge.
Spectromètre | Bruker Vertex 70 |
Détecteur | DTGS extension infrarouge lointain (8000-180 cm-1) |
Microscope | Bruker Hyperion 3000 |
Détecteurs simple élément |
MCT A bande moyenne 100 µm (10000-600 cm-1) MCT B bande large 100 µm (10000-420 cm-1) |
Détecteur imageur | FPA 64×64 pixels (4000-860 cm-1) |
Objectif visible | 4x N.A. 0.1, distance de travail 21 mm |
Objectifs infrarouge |
15x N.A. 0.4, distance de travail 24 mm 15x N.A. 0.6, distance de travail 19 mm |
Objectif ATR | 20x pointe germanium 100 µm, zone imagée 32 x 32 µm2 |
Polariseur visible | |
Fluorescence | Source mercure |
Table motorisée | 100 x 80 mm2 |
Logiciel | OPUS 6 |