MEGEL Maxime
Maxime Megel
Ingénieur d’étude en méthodes de clustering et classification pour l’imagerie (MNHN)
Axe : XIAMA
« Titulaire depuis 2024 d’un diplôme d’ingénieur avec une spécialisation en modélisation aléatoire et calcul scientifique (Telecom Paris), j’ai effectué mon stage de fin d’étude à IPANEMA début 2024. Ce dernier visait à améliorer un algorithme de segmentation hiérarchique de cartographies XRF par une approche prenant plus finement en compte le comportement aléatoire des spectres. Ingénieur d’études à IPANEMA depuis Octobre 2024, je poursuis ces travaux sur la segmentation de cartographies XRF et sur la photoluminescence.»
Thématiques de recherche :
- Statistiques, modélisation aléatoire
- Traitement d’images spectrales
Publications
1 documents
Communications dans un congrès
- Maxime Megel, Gilles Celeux, Serge X. Cohen, Agnès Grimaud, Christine Keribin. Segmentation d'images spectrales de fluorescence X sur la base d'une dissimilarité s'appuyant sur la perte de vraisemblance. JdS 2025 - 56ièmes Journées de Statistique, SFdS, Jun 2025, Marseille, France. ⟨hal-05266628⟩
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