MEGEL Maxime

Ingénieur d’étude en méthodes de clustering et classficiation pour l’imagerie (MNHN)

Axe : XIAMA

« Titulaire depuis 2024 d’un diplôme d’ingénieur avec une spécialisation en modélisation aléatoire et calcul scientifique (Telecom Paris), j’ai effectué mon stage de fin d’étude à IPANEMA début 2024. Ce dernier visait à améliorer un algorithme de segmentation hiérarchique de cartographies XRF par une approche prenant plus finement en compte le comportement aléatoire des spectres. Ingénieur d’études à IPANEMA depuis Octobre 2024, je poursuis ces travaux sur la segmentation de cartographies XRF et sur la photoluminescence.»

Thématiques de recherche :

• Statistiques, modélisation aléatoire
• Traitement d’images spectrales